赫爾納-供應(yīng)的歐洲貨源德國(guó)直采VOGT測(cè)量?jī)x赫爾納-供應(yīng)的歐洲貨源德國(guó)直采VOGT測(cè)量?jī)x

赫爾納貿(mào)易優(yōu)勢(shì)供應(yīng),德國(guó)總部直接采購(gòu)，近30年進(jìn)口工業(yè)品經(jīng)驗(yàn),原裝產(chǎn)品,支持選型，為您提供一對(duì)一好的解決方案：貨期穩(wěn)定，快速報(bào)價(jià)，價(jià)格優(yōu)，在中國(guó)設(shè)有8大辦事處提供相關(guān)售后服務(wù).

VOGT測(cè)量?jī)x主要產(chǎn)品：

超聲波檢測(cè) (UT)

視覺(jué)檢查 (VT)

渦流檢測(cè) (ET)

染料滲透測(cè)試 (PT)

PROline 超聲波檢測(cè)系統(tǒng)

SPOTline 超聲波檢測(cè)系統(tǒng)

VOGT測(cè)量?jī)x產(chǎn)品型號(hào)：

PROlineBAR

PROlineCOMPACT

VOGT測(cè)量?jī)x產(chǎn)品特點(diǎn)：

根據(jù) EN ISO 10447 測(cè)量的光斑直徑 dP

微距切割的鏡片直徑 dL。使用顯微照片視覺(jué)測(cè)量鏡片尺寸。公式 dL= x √tmin 用作透鏡直徑的小尺寸。x 的公因數(shù)是 3.5 或 4（用戶(hù)特定

焊點(diǎn)處電極的壓痕深度（帽壓痕）

VOGT測(cè)量?jī)x產(chǎn)品應(yīng)用：

VOGT測(cè)量?jī)x渦流測(cè)試（ET測(cè)試）是一種對(duì)導(dǎo)電材料進(jìn)行表面裂紋檢測(cè)的方法。它用于檢查體積，僅適用于奧氏體等特殊材料。渦流檢測(cè)使用電磁感應(yīng)來(lái)檢測(cè)表面和近表面缺陷。使用這種無(wú)損材料測(cè)試方法，通過(guò)磁場(chǎng)在組件中產(chǎn)生電磁電流。VOGT測(cè)量?jī)x這些電流以小圓圈流動(dòng)，因此稱(chēng)為渦流測(cè)試。材料中的缺陷會(huì)改變這些渦流線(xiàn)的路線(xiàn)，這意味著可以檢測(cè)到錯(cuò)誤。

VOGT測(cè)量?jī)x渦流檢測(cè)是基于電磁感應(yīng)的物理現(xiàn)象。在渦流探頭中，交流電流流過(guò)線(xiàn)圈，產(chǎn)生振蕩磁場(chǎng)。如果探頭及其磁場(chǎng)放置在導(dǎo)電材料附近，例如 B. 一個(gè)由金屬制成的試樣，一個(gè)循環(huán)的電子流，即所謂的渦流，開(kāi)始在金屬中移動(dòng)——就像水流中的漩渦。流經(jīng)金屬的渦流會(huì)產(chǎn)生自己的磁場(chǎng)，該磁場(chǎng)通過(guò)互感與線(xiàn)圈及其磁場(chǎng)相互作用。金屬厚度的變化或近表面裂紋等缺陷會(huì)破壞或改變渦流的幅度和模式以及產(chǎn)生的磁場(chǎng)。這反過(guò)來(lái)又通過(guò)改變線(xiàn)圈的電阻抗來(lái)影響線(xiàn)圈中電子的運(yùn)動(dòng)。渦流計(jì)記錄阻抗幅度和相位角的變化，訓(xùn)練有素的探測(cè)器可以使用這些變化來(lái)檢測(cè)樣本的變化。

VOGT測(cè)量?jī)x零件表面附近的渦流密度高，使其成為檢測(cè)分辨率高的區(qū)域。VOGT測(cè)量?jī)x標(biāo)準(zhǔn)穿透深度定義為渦流密度為其表面值的 37% 時(shí)的深度，該深度又可以由測(cè)試頻率和測(cè)試材料的磁導(dǎo)率和電導(dǎo)率計(jì)算得出。例如，測(cè)試材料的電導(dǎo)率、磁導(dǎo)率、驅(qū)動(dòng)線(xiàn)圈的交流脈沖頻率和線(xiàn)圈幾何形狀的變化會(huì)影響測(cè)試靈敏度、分辨率和穿透深度。

VOGT測(cè)量?jī)x影響渦流檢測(cè)能力的因素有很多。在電導(dǎo)率值較高的材料中流動(dòng)的渦流對(duì)表面缺陷更敏感，但對(duì)材料的滲透較淺，滲透深度也取決于測(cè)試頻率。較高的探測(cè)頻率會(huì)增加表面附近的分辨率，但會(huì)限制穿透深度，而低的探測(cè)頻率會(huì)增加穿透深度。雖然電導(dǎo)率和磁導(dǎo)率是測(cè)試材料無(wú)法控制的特性，VOGT測(cè)量?jī)x但可以選擇測(cè)試頻率、線(xiàn)圈類(lèi)型和線(xiàn)圈尺寸以滿(mǎn)足測(cè)試要求。在給定的測(cè)試中，分辨率由探頭類(lèi)型決定，而檢測(cè)能力由材料和設(shè)備屬性控制。一些測(cè)試運(yùn)行多個(gè)頻率以?xún)?yōu)化結(jié)果。